梅特勒電子天平重復(fù)性測(cè)試 REPEAT.T
梅特勒電子天平重復(fù)性測(cè)試是指使用內(nèi)置砝碼對(duì)內(nèi)置砝碼按給定的次數(shù)進(jìn)行重復(fù)測(cè)試。
注意：僅針對(duì)帶內(nèi)校的天平。
1) 按«
»鍵進(jìn)入重復(fù)性測(cè)試，"REPEAT.T"，"R.TST. 10"字樣會(huì)出現(xiàn)在顯示屏上。
2) 按«+» 或«–»鍵來(lái)選擇重復(fù)測(cè)試次數(shù)(數(shù)值會(huì)閃爍)。可選的有效次數(shù)值為 5, 10 (默認(rèn)),
20, 50, 100 次。.
3) 短按« »以啟動(dòng)測(cè)試，同時(shí)會(huì)顯示"RUNNING REPEAT TEST"，直至測(cè)試完成。
4) 短按«C» 鍵可取消測(cè)試過(guò)程。天平將回到"DIAGNOS."。
例如:
重復(fù)性測(cè)試是一個(gè)工具，主要用于電子天平的性能測(cè)試。可將其用于：
? 測(cè)試天平性能
在天平安裝時(shí)。
在維護(hù)保養(yǎng)之后。
當(dāng)稱量性能顯著降低時(shí)，可將測(cè)試結(jié)果通過(guò)郵件/傳真的方式發(fā)送給服務(wù)支持部門，進(jìn) 行診斷。
? 確定環(huán)境適配器設(shè)置
在"STABLE", "STANDARD" 和 "UNSTABLE"模式下分別進(jìn)行重復(fù)性測(cè)試。耗時(shí)短的設(shè)置，就是適合于當(dāng)前環(huán)境條件下的設(shè)置。
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