賽多利斯天平的舊榮光，曾經的分析天平有一間安靜的單間，屋子的封閉性做的很好，不會收到各種不規則氣流、聲波的影響。這個單間的門是常閉的，人進出后要立馬關門，為的就是讓自己擁有絕對的安靜環境。

曾經的賽多利斯天平有一個單獨的臺子（寶座）。它一個人獨享這么一個平整的臺子，不允許任何使用者對自己的臺子施加力道，影響到臺子的平整。

曾經的賽多利斯電子天平都需要專業操作者對自己進行調試，來讓自己被水平地方好，來讓自己松懈的稱量神經重新振作起來。

曾經的賽多利斯天平有專業的操作者，每次操作者都會像服飾圣人一樣，屏息細致地操作，生怕有一絲呼吸影響到天平那敏感的稱量神經。操作完之后，會對分析天平進行仔細的清理，生怕留下一點污跡

然而，隨著工業化的進程，原來精密高貴的賽多利斯分析天平可以量產，簡直成為一種爛大街的存在。分析天平被每個實驗配備，相比于實驗室動輒十萬、百萬、甚至千萬的機器，它的身價已經不算什么了。它不再是那么高貴，不再是那么不可褻瀆，不再是那么受人尊敬。它開始使用者粗暴地對待，一個血統高貴的貴族慢慢的落寞了。

分析天平不再有自己的單間，他和無數其他機器擠在一起，沒有人記得它是需要被單獨存放的精密儀器。分析天平也失去了自己獨有的臺子，通常這邊進行著稱量，那邊進行著其他操作，甚至邊上有粉碎、震蕩等機器。如此粗暴地環境簡直要使得敏感的分析天平犯上神經衰弱的病癥。

分析天平也不在被人們校正，人們以為她就是一款天平，開了就用，僅此而已。分析天平也不再本人們好好清理，不就是一臺幾百上千的機子，壞了再買。費那么大的勁清理這么個小機器干什么。

分析天平不應該被如此慢待，它應該擁有它作為實驗室設備該有的榮譽。今天就把分析天平的基礎知識及使用情況與大家進行交流。

賽多利斯天平分類

• 分析天平 (0.0001 g)

• 半微量天平 (0.00001 g)

• 微量天平 (0.000001 g)

• 超微量天平(0.0000001 g)

賽多利斯天平電子分析天平及原理

（電子分析天平及原理圖，這只是電子分析天平的；其它的電子天平的原理不一樣的。）
電子分析天平采用電磁力與被測物體的重力相平衡的原理來測量的。物理課本里講過，通電導體在磁場中做切割磁力線運動,將產生電磁力(洛侖茲力)。F=IBLSinθF:電磁力；I:電流強度；B:磁感應強度；θ:I與B的夾角。
總結：由于傳感器中動圈的規格尺寸已固定，所以其B和L均不再改變，而由于傳感器中動圈的規格尺寸已固定，所以其B和L均不再改變，而θ為90°，故sinθ=1，因此F的大小與I成對應關系。綜合之前的描述，平衡時G=mg=F，得出：m=BLI / g
以上就是整個文的核心內容了，死記硬背吧。假如出現各種非~必要情況，你云淡風輕的寫出這一公式......拉風，赤果果的炫耀。

賽多利斯天平日常校準

賽多利斯分析天平測定欲知的是物體的質量，但是質量無法直接測知，電子天平測知的是重量（地球對物體的引力=重力），然后再由重量換算成質量進行顯示。質量與重量的比例關系是取決于測定場所的重力加速度。將已知道準確質量的校準砝碼放到電子天平上，這時測知的重力相當于它的質量，若作為重力與質量的比例關系式進行存儲，則在以后的每次測定物體時可由這個重量計算質量并進行顯示。這個作業被認作為校準（Span calibration）。

（1）靈敏度再校準的必要性例如：京都和東京的重力加速度分別為979.70775cm/S2和979.76319cm/s2，相差為0.0057%程度，在京都執行校準（Span calibration）后的電子天平移動到東京時，若測定100.0000g整的質量的物體，則成為100.0057g，產生兩位的誤差，所以使用前請務必在設置場所進行校準（Span calibration）。另外：電子分析天平，在重量檢測的結構上使用永久磁石和線圈，永久磁石，即使經過校正，溫度每變化1℃也會產生達±2ppm（百萬分之2）的靈敏度變化。這意味著，若測定100克的物體時，就產生相當于±0.2mg的誤差。因此有可能產生電子分析天平的后位的數字達2程度的偏差。若天平執行校準后溫度變化5℃時，100.0000g的物體，在+側 大可達100.0010g。為此，請在溫度變化時為測定準確起見，務必進行校準。提示：執行校準時，必須使天平處于十分穩定的狀態。為此，萬分之一分析天平要求待機通電1小時以上，待天平穩定后可進行校準操作。使用十萬分之一（小顯示0.01mg）時，則必須通電4待機小時以上。靈敏度校準必須在正確安裝和充分預熱后再進行。另外，執行校準時在稱量盤上不能放測定物，必須在人出入少，沒有風和振動的狀態下執行校準操作（Span calibration）。

（2）靈敏度再校準操作具有內校準功能的電子分析天平，天平內藏電機驅動校準砝碼，不必保管外部校準用砝碼和自行裝取砝碼，只需簡單的按鍵操作即可進行校準。如島津AUW-D/AUW/AUX系列天平，空載狀態下，按天平上的CAL鍵，當天平顯示iCAL時，按O/T鍵執行校準。
伴隨機內砝碼的電機升降，天平依次顯示CAL2→CAL1→CAL0，此過程為天平自動進行校準，無需再進行其他操作。當屏幕顯示CAL END，隨后會自動跳轉至稱量界面，至此內砝碼校準執行完畢，可以開始稱量實驗。

對于無內校準功能的電子分析天平，需使用外部的校準砝碼進行天平校準工作。為使電子分析天平準確地進行質量測定，在以下情況下需要進行校準（Span calibration）。

■變更設置場所時（即使在同一房間內移動也須進行校準） ；

■室溫變化時 ；

■在每次使用前，先執行校準（Span calibration）。

賽多利斯天平常見故障原因及解決方法

1、電子天平顯示“L”故障原因：

（1）秤盤下存有異物；

（2）未安裝秤盤；

（3）氣流墨和秤盤碰在一起；

排除方法:

（1）查看秤盤下是否有異物存在，輕輕拿走；

（2）請把秤盤安裝在秤盤座上；

（3）慢慢轉動秤盤或氣流罩查看是否有碰觸的情況，調整氣流罩的位置；

2、加載天平顯示“H”的故障故障原因：

（1）曾經用過小于校準砝碼值的砝碼或其它物體校準過天平，使天平上正常量程內的重量顯示超重；

（2）天平上加載了過重的物體，超出量程范圍；

排除方法：

（1）需要使用正確的標準砝碼進行校準。

（2）不要超載稱量。

3、電子天平開機后無法通過自檢，并出現如下故障代碼：“EC1”：CPU損壞；

“EC2”：鍵盤錯誤；

“EC3”：天平存儲數據丟失；

“EC4”：采樣模塊沒有啟動；故障原因:

這是嚴重錯誤使電子天平無法正常工作，需要送修，由專業人員進行維修，用戶不要擅自修理。

4、電子天平開機后顯示“L”，加載顯示“H”或開機顯“H”，加載顯示“L”故障原因：電子天平的工作環境溫度超出了允許的范圍；

排除方法：電子天平正常的工作的環境溫度范圍是20℃士5℃，要求每小時環境溫度變化不大于1℃，請將電子天平移置適合的溫度環境內工作。

5、電子天平顯示“E1”，顯示溢出，顯示值已超過

故障原因：計件或百分比稱重時，樣品值過小。

排除辦法：在計件時出現“E1”，要先拿掉秤盤上的物體，重新選擇樣品的件數，可選10樣品的整數2倍、5倍、10倍等作為樣品。記下當前樣品的倍數，讀數時讀取顯示值乘以倍數即可。

6、按下“i/o”鍵后，電子天平無任何顯示

賽多利斯天平故障原因：

（1）電子天平保險絲熔斷；

（2）未接通電源；

（3）鍵盤出錯，按鍵卡死。

解決辦法:

（1）更換保險絲，先把電源線拔掉，用小螺絲刀將電子天平電源插座處的熔絲盒撬開，更換新的保險絲；

（2）連接電源；

（3）把按鍵固定螺絲擰松，調整按鍵位置。

賽多利斯天平維護與保養手段

1、將天平置于穩定的工作臺上避免振動、氣流及陽光照射；

2、在使用前調整水平儀氣泡至中間位置；

3、電子天平應按說明書的要求進行預熱；

4、稱量易揮發和具有腐蝕性的物品時，要盛放在密閉的容器中，以免腐蝕和損壞電子天平；

5、經常對電子天平進行自校或定期外校，保證其處于佳狀態；

6、如果電子天平出現故障應及時檢修，不可帶“病”工作；

7、操作天平不可過載使用以免損壞天平；

8、若長期不用電子天平時應暫時收藏為好；

具體實施步驟都有啥？維護：定期對電子天平進行維護保養，不僅能延長儀器的使用壽命，而且將提高測量的安全性。

清洗：在對儀器清洗之前，請您將儀器與工作電源斷開。在清洗時，請您不要使用強力清洗劑（溶劑類等），僅應使用中性清洗劑（肥皂）浸濕的毛巾擦洗。請注意，不要讓液體滲到儀器內部。在用濕毛巾擦完后，再用一塊干燥的軟毛巾擦干。試件剩余物/粉末必須小心用刷子或手持吸塵器去除。

安全檢查：如果儀器在您看來已不再能保證無危險地工作，那么，請您切斷儀器的供電電源，并采取安全措施，保證不再被另外使用。不再能保證變壓器安全工作的原因如下：

變壓器出現人眼可見的破損情況

變壓器不再能工作

長期存放于惡劣的環境中

在這種情況下，請您通知銷售公司的維修人員。恢復儀器的運行工作僅允許由該公司人員進行，或者經該公司允許并授權的專家按照維修文件所述的內容及要求進行。

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